Przenośne systemy DR (generator, panel, oprogramowanie) Teledyne ICM

    Przenośne systemy rentgenowskie DR (generator, panel, oprogramowanie) Teledyne ICM   Sprawdź nasze przenośne systemy do radiografii cyfrowej. Urządzenia są zaprojektowane i produkowane przez jednego producenta Teledyne ICM. Dobierane i konfigurowane do aplikacji klienta tworzą kompleksowy system do przenośnej cyfrowej inspekcji radiograficznej. Elementy tworzące system to: detektor, generator promieni rentgenowskich i najnowocześniejsze oprogramowanie do…

Serwis, przeglądy, szkolenia spektrometry iskrowe OES

Serwis i kalibracja spektrometrów iskrowych Serwis spektrometrów iskrowych (optycznych).  Wykonujemy serwis spektrometrów zarówno w siedzibie klienta jak i w swoim laboratorium. Wykonujemy przeglądy wzorcowanie oraz serwis spektrometrów iskrowych firmy HITACHI.  Nasi serwisanci regularnie uczestniczą w szkoleniach serwisowych producenta spektrometrów Hitachi High Tech (Oxford Instruments) co dokumentują adekwatne certyfikaty. Właściwa konserwacja i użytkowanie, okresowe przeglądy to…

Sprawdzenie roczne lamp rentgenowskich

Sprawdzenie roczne lamp rentgenowskich   Serwisanci firmy PCB Service regularnie uczestniczą w wymaganych szkoleniach serwisowych u producentów m.in.: Teledyne ICM, Gilardoni, Gulmay, Hamamatsu, X-ray Works i innych naszych dostawców. Nasze laboratorium kompleksowo wyposażone jest w odpowiednie urządzenia do sprawdzania parametrów lamp rentgenowskich. Firma PCB Service posiada niezbędne pozwolenia Państwowej Agencji Atomistyki do wykonywania przeglądów okresowych…

VULCAN

Spektrometr VULCAN bazuje na technologii LIBS (LIBS – Laser Induced Breakdown Spectrometry) czyli indukowanie promieniowaniem laserowym. Technologia ta uważana jest za nieinwazyjną metodę analizy składu chemicznego stopów metali. Technologia LIBS w spektrometrze VULCAN w praktyce oznacza:  Praca bez generacji promieniowania rtg  – nie ma potrzeby szkoleń pracowników w zakresie pracy z promieniowaniem rentgenowskim oraz zgłaszania urządzeń do Państwowej Agencji Atomistyki Pomiar w 1 sekundę dla  stopów metali…

X-MET8000 Expert Geo

Ręczny analizator XRF do analizy przesiewowej gleby oraz wydobytych materiałów Spektrometr X-MET8000 Expert Geo to ręczny analizator XRF do zastosowań geochemicznych np. szybkie przesiewowe badania gleby, analiza wydobywcza w każdej fazie, począwszy od wstępnych badań wydobywczych do analizy odpadów.  X-MET8000 Expert Geo jest łatwy i prosty w obsłudze i przystosowany do pracy w najtrudniejszych warunkach otoczenia…

Mierniki warstw

Mierniki warstw Hitachi High Tech (Oxford Instruments) to wiarygodne, dokładne oraz proste w obsłudze urządzenia do pomiaru warstw na różnych podłożach. Szeroka gama zastostosowań: mierniki warstw do powłok galwanicznych i pomiaru powłok metalicznych mierniki warstw powłok przemysłowych & lakierniczych & proszkowych mierniki warstw do płytek PCB & warstwy miedzi Szczegółowe informacje w załączonych ulotkach

X-Strata 920

X-Strata 920 to kompaktowy, wytrzymały niezawodny system kontrolI jakości XRF do nieskomplikowanej, szybkiej i nieniszczącej analizy pomiarów grubości powłok i materiałów. System umożliwia wykonanie doskonałej analizy grubości powłok i analizy wielowarstwowej dla wielu aplikacji włączając zastosowanie w elektronice, odlewnictwie, obróbce metali czy jubilerstwie. Analizator grubości powłok X-Strata 920 oferuje znaczące korzyści dla użytkownika:  – badanie metodą…

MAGISCOP CEM 2500/400

– Regulowane długość osi od 1500 mm do 2500 mm – Maksymalna waga elementu: 800kg – Prądy magnesujące: HWDC i AC dla obu kierunków – Automatyczny cykl magnesowania i rozmagnesowywania – Ręczne ładowanie i rozładow. przez operatora z użyciem dźwigu

Spektrometr rentgenowski EDXRF X-MET8000

Spektrometr rentgenowski X-MET8000 – precyzyjna analiza składu metali   DLACZEGO WARTO WYBRAĆ SPEKTROMETR XRF X-MET8000? DOSKONAŁA WYDAJNOŚĆ Spektrometr X-MET XRF zapewnia doskonałą analizę pierwiastków lekkich (Mg, Al, Si, P, S, Cl), niskie granice wykrywalności i wyjątkową precyzję wyników, którym możesz zaufać. Badaj szeroką gamę materiałów za pomocą wszechstronnych, standardowych metod parametrów podstawowych (FP) lub korzystaj z…