Pomoc Ukraina
X-Strata 920 to kompaktowy, wytrzymały niezawodny system kontrolI jakości XRF do nieskomplikowanej, szybkiej i nieniszczącej analizy pomiarów grubości powłok i materiałów. System umożliwia wykonanie doskonałej analizy grubości powłok i analizy wielowarstwowej dla wielu aplikacji włączając zastosowanie w elektronice, odlewnictwie, obróbce metali czy jubilerstwie.
Analizator grubości powłok X-Strata 920 oferuje znaczące korzyści dla użytkownika:
– badanie metodą nieniszczącą: nie wymaga przygotowania próbek do badania
– sprawdzona w terenie technologia i wiarygodność pomiarowa
– prosty w obsłudze,
– wyjątkowa dokładność i precyzja pomiarowa,
– urządzenie zaprojektowane i wyprodukowane przez producenta z ponad 20 letnim doświadczeniem w zakresie pomiaru powłok.
X Strata 920 występuje w trzech konfiguracjach:
1. Standardowa baza
• “szczelinowa komora” umożliwia pomiar szerokiego zakresu próbek zarówno małych komponentów jak i dużych płaskich próbek, np. płytki elektroniczne – PCB. Rozmiar próbki może przekroczyć szerokość urządzenia
• Ekonomiczne i praktyczne
• Do analizy próbek do 33mm (1.3”) wysokości
2. Regulowana baza Mini-well
• Komora “Mini-Well” umożliwia pomiar szerokiego zakresu części/komponentów od małych do dużych, do 160mm (6.3”) wysokości
• Taca na próbki, która może być umieszczona w czterech pozycjach 'mini-well” umożliwiających badanie próbek o różnych wysokościach, zapewniając w ten sposób prostą analizę szerokiego spektrum próbek.
• “szczelinowa komora” umożliwia pomiar szerokiego zakresu próbek zarówno małych komponentów jak i dużych płaskich próbek, np. płytki elektroniczne – PCB. Rozmiar próbki może przekroczyć szerokość urządzenia
3. Programowalna baza XY
• Ruchomy i programowalny stolik umożliwia automatyczny pomiar wysokich próbek
• Kontrola myszką umożliwia łatwe pozycjonowanie części w celu dokładnego pozycjonowania punktów przeznaczonych do analizy
• “szczelinowa komora” umożliwia pomiar szerokiego zakresu próbek zarówno małych komponentów jak i dużych płaskich próbek, np. płytki elektroniczne – PCB. Rozmiar próbki może przekroczyć szerokość urządzenia
• Rozmiar stolika: 56mm (22″) głębokość x 61mm (24″) szerokość