Nowy Defektoskop XEO SONATEST => PAUT TFM TOFD – z wiązką 3D, skanowanie liniowe i sektorowe – UMÓW SIĘ NA PREZENTACJĘ
Nowy Defektoskop XEO SONATEST => PAUT TFM TOFD – z wiązką 3D, skanowanie liniowe i sektorowe – UMÓW SIĘ NA PREZENTACJĘ Defektoskop XEO i Phased Array jest niezwykle proste w obsłudze, oferując intuicyjny proces konfiguracji, który pomaga dobrać parametry nawet w najbardziej złożonych inspekcji. Interfejs XEO to rozwiązanie dopasowane do potrzeb inspektorów NDT.…