Mierniki warstw

    X-Strata 920

    X-Strata 920 to kompaktowy, wytrzymały niezawodny system kontroli jakości XRF do nieskomplikowanej, szybkiej i nieniszczącej analizy pomiarów grubości powłok i materiałów. System umożliwia wykonanie doskonałej analizy grubości powłok i analizy wielowarstwowej dla wielu aplikacji włączając zastosowanie w elektronice, odlewnictwie, obróbce metali czy jubilerstwie.