Głowice podwójne na falę poprzeczną do badań automatycznych (ATSW) zawierają dwa kryształki. Produkowane w obudowie 30x30mm. ATSW zaprojektowano tak aby współpracowały z szerokim zakresem skanerów zarówno automatycznych jak i manualnych. Głowice idealne do inspekcji cienkich materiałów i małych wad podpowierzchniowych.
• przyłącze do zasilania środkiem sprzęgającym, izolowany elektrycznie konektor oraz kardanowe mocowanie M4
• przyłącze Lemo 00